你的位置:首頁 > 產(chǎn)品展示 > 鍍層測厚儀/膜厚儀 > 鍍層測厚儀 >X熒光/X射線測厚儀(膜厚儀)
產(chǎn)品詳細(xì)頁X熒光/X射線測厚儀(膜厚儀)
簡要描述:X熒光/X射線測厚儀(膜厚儀)Thick800D:是天瑞集多年的經(jīng)驗(yàn),專門研發(fā)用于鍍層行業(yè)的一款儀器,可全自動(dòng)軟件操作,可多點(diǎn)測試,由軟件控制儀器的測試點(diǎn),以及移動(dòng)平臺。是一款功能強(qiáng)大的儀器,配上專門為其開發(fā)的軟件,在鍍層行業(yè)中可謂大展身手。
- 產(chǎn)品型號:Thick800D
- 廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間:2024-11-08
- 訪 問 量:5051
產(chǎn)品介紹
X熒光/X射線測厚儀(膜厚儀)性能特點(diǎn)
滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測試需求
φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿足微小測試點(diǎn)的需求
高精度移動(dòng)平臺可精確定位測試點(diǎn),重復(fù)定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光,可自動(dòng)定位測試高度
定位激光確定定位光斑,確保測試點(diǎn)與光斑對齊
鼠標(biāo)可控制移動(dòng)平臺,鼠標(biāo)點(diǎn)擊的位置就是被測點(diǎn)
高分辨率探頭使分析結(jié)果更加精準(zhǔn)
良好的射線屏蔽作用
測試口高度敏感性傳感器保護(hù)
X熒光/X射線測厚儀(膜厚儀)技術(shù)指標(biāo)
型號:Thick 800A
元素分析范圍從硫(S)到鈾(U)。
一次可同時(shí)分析zui多24個(gè)元素,五層鍍層。
分析檢出限可達(dá)2ppm,zui薄可測試0.005μm。
分析含量一般為2ppm到99.9% 。
鍍層厚度一般在50μm以內(nèi)(每種材料有所不同)
任意多個(gè)可選擇的分析和識別模型。
相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型。
多變量非線性回收程序
多次測量重復(fù)性可達(dá)0.1%
長期工作穩(wěn)定性可達(dá)0.1%
度適應(yīng)范圍為15℃至30℃。
電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源。
儀器尺寸:534(W) x 480 (D) x525(H) mm
重量:80 kG
標(biāo)準(zhǔn)配置:
高低壓電源(美國Spellman進(jìn)口)
大功率X光管(英國Oxford牛津進(jìn)口)
電制冷半導(dǎo)體探測器(美國AMPTEK進(jìn)口)
多道分析器(美國進(jìn)口)
控制電路
高壓單元
移動(dòng)樣品臺
高清晰CCD
準(zhǔn)直器:含Ф8.0mm、Ф6.0mm、Ф2.0mm、Ф1.0mm、Ф0.5mm、Ф0.2mm各一個(gè)
濾光片:5組濾光片
計(jì)算機(jī):品牌商務(wù)電腦(內(nèi)存2G、硬盤200G),17寸液晶顯示器
打印機(jī):彩色噴墨打印機(jī)
應(yīng)用范圍:
RoHS檢測分析
地礦與合金(銅合金、鋅合金、鎂合金、鈦合金、鈷合金、不銹鋼等金屬樣品的成分等)成分分析
金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定
黃金,鉑,銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測
掃一掃關(guān)注【德譜儀器】
- 上一篇:DX320L金屬合金成分分析儀
- 下一篇:EDX-P530手持式礦石分析儀